Bruker M4 TORNADO PLUS
用于超輕元素分析的微區XRF成像光譜儀
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M4 TORNADO PLUS能夠檢測、分析從碳（C）到镅（Am）全元素的微區XRF成像光譜儀。作為久經驗證、市場的M4 TORNADO微區XRF分析儀系列的成員，M4 TORNADO PLUS還具備多項創新功能，例如：創新的孔徑管理系統、超高通量脈沖處理器以及靈活的快速更換樣品臺。
產品特點
·兩個大面積硅漂移探測器（SDD），配備超輕元素窗口
·高性能X射線管，增強低能量激發
·超高通量脈沖處理器
·zhuan利孔徑管理系統（AMS）
·快速更換樣品臺（可選多種樣品支架）
·第二X射線管，配備自動四位置準直器切換裝置（選配）
·可編程氦氣吹掃系統（選配）
產品優勢
·輕元素檢測下限至碳（C）
·提升輕元素檢測效率
·縮短采集時間，提升分析效率
·高景深設計，確保表面形貌復雜樣品成像時更多特征與細節清晰聚焦
·縮短樣品更換與系統準備時間
·高能譜線分析靈活性更高
·常壓環境下實現輕元素分析性能
儀器亮點
M4 TORNADO PLUS 通過采用配備超輕元素窗口的大面積硅漂移探測器（SDD）及超高通量脈沖處理器，實現了對碳（C）以上輕元素的高效檢測，并大幅提升了采集速度。其zhuan利孔徑管理系統（AMS）可提供景深性能，即使是表面形貌復雜的樣品也能實現精準分析。
得益于低能量范圍內顯著增強的靈敏度，鈉 （Na）至氯（Cl）元素的檢測性能大幅提升，與入門級微區XRF系統相比，典型計數率（cps）增幅高達20倍。
憑借這些性能突破，前沿研發領域可受益于高速微區XRF面掃描。
產品規格
樣品類型 | 固體、顆粒、液體 |
樣品室尺寸 | W x D x H: 600 mm x 350 mm x 260 mm |
樣品臺 | W x D: 330 mm x 170 mm, 最大載重： 7 kg |
測量氣體 | 空氣環境或可調真空（配備無油泵，約3分鐘可達2毫巴），可選氦氣吹掃系統 |
樣品行程 | 最大行程： W x D x H: 200 mm x 160 mm x 120 mm 掃描行程： W x D: 190 mm x 160 mm 移動速度：采用TurboSpeed樣品臺時最高可達100 mm/s |
樣品視圖 | 雙路實時俯視成像系統（不同放大倍率）實現樣品概覽與精確定位，側向魚眼鏡頭提供樣品室全景監控 |
激發 | 第一X射線管：高亮度、輕元素微焦斑X射線管，配備多導毛細管X射線光學系統和孔徑管理系統（AMS） 靶材：銠（Rh），可選銀（Ag） 管參數：50 kV，30 W 光斑尺寸：使用多導毛細管透鏡時，≤20μm (Mo Kα @17.5 keV) 濾光片：8種激發濾光片可選第二X射線管：細聚焦X射線管，配備四位置準直器切換裝置，準直器尺寸從0.5 mm到4.5 mm 靶材：鎢（W），可選銠（Rh）、鉬（Mo）、銅（Cu）、鉻（Cr） 管參數：50 kV，40 W 濾光片：8種激發濾光片 |
探測器 | XFlash®超輕元素硅漂移探測器，可檢測從碳（C）到镅（Am）的元素，支持雙探測器 。 敏感區域面積：2 x 60 mm2； 能量分辨率：< 145 eV（在輸入計數率為 600,000 cps 時）； 吞吐量：最高可達 550,000 cps 輸出計數率 |
儀器控制 | 先進的PC，Windows®操作系統 X射線管參數、濾光片、光學顯微鏡、樣品照明及樣品定位全面控制 |
光譜評估 | 峰識別、偽影與背景校正、峰面積計算、FP定量分析，使用 XMethod 進行基于標樣和無標樣的校準定量分析 |
分布分析 | “On the fy" 測量，HyperMap功能 |
結果呈現 | 定量分析結果，統計評估，元素分布（線掃描，面掃描） |
電源要求 | 100 - 240 V (1P), 50/60 Hz |
尺寸和重量 | W x D x H: 815 mm x 680 mm x 580 mm, 130 kg* |
質量與安全 | DIN EN ISO 9001:2015, CE 認證，UKCA 認證；全面輻射防護系統；輻射量 < 1 μSv/h |
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