VERTEX 80和VERTEX 80v真空FTIR光譜儀采用主動準直的 UltraScan™ 干涉儀，能夠為您帶來光譜分辨率。高精度的線性氣動軸承掃描儀以及光學元件為儀器的靈敏度和穩(wěn)定性提供了保證。VERTEX 80v采用真空光學臺，可消除大氣中的水分吸收，從而實現靈敏度和穩(wěn)定性，助力進行諸多高難度試驗，如高分辨率、快速掃描、步進掃描或紫外光譜范圍測量。

得益于VERTEX 80/80v 的光學設計，系統具備靈活性。布魯克光學的DigiTect™技術，有助于避免外部信號干擾，保證了儀器的佳信噪比，這使得用戶可以輕松重復地自行更換檢測器。兩個可選的外接檢測器端口可安裝輻射熱測量計和/或熱電子檢測器的液氦杜瓦。與外接的水冷高功率Hg-arc光源相結合，即便是使用室溫DTGS檢測器，也能達到近期重新發(fā)現的太赫茲光譜范圍。

譜區(qū)擴展

VERTEX 80/80v可通過配備各種光學選件，來覆蓋從遠紅外或太赫茲開始，經中紅外和近紅外、可見光到紫外光的光譜區(qū)域。其預準直光學元件以及主動準直的UltraScan™干涉儀，使切換和維護變得十分簡單。

BMS-c： 布魯克為VERTEX 80v真空光譜儀提供高精度分束器切換選件BMS-c。

您可以在真空條件下，通過遠程控制自動更換多達4種不同類型的分束器。現在，您無需泄光譜儀真空打開光學臺來手動切換分束器，就能測量從紫外/可見光到遠紅外/太赫茲的完整光譜范圍。

光學分辨率

VERTEX 80 和 VERTEX 80v 標準配置提供優(yōu)于 0.2cm-1的標點光譜分辨率，這足以進行大多數環(huán)境壓力氣相研究和室溫樣品測量。對于先進的低溫工作，例如在晶體半導體材料或低壓力下進行氣相測量，提供優(yōu)于 0.06cm-1 的 PEAK 分辨率。這是使用商用臺式 FT-IR 光譜儀實現的高光譜分辨率。可見光譜范圍內的高分辨率光譜顯示分辨率（波數 + 除以光譜分辨率 ? +）更好的 300，000：1。

多功能

創(chuàng)新的光學設計使靈活性和拓展能力佳的研究級真空FTIR光譜儀成為可能。借助真空光學臺，該系統在中紅外、近紅外和遠紅外區(qū)域具有靈敏度，而不必擔心那些非常弱的光譜特征因空氣中的水蒸氣吸收而被掩蓋。VERTEX 80v 真空光譜儀能為您帶來成果，例如在低至 10-3 單層的納米科學研究領域。不僅如此，它的靈活性幾乎不受限制。光學臺的右側、前側和左側布有5個光束輸出端口，右側和后側有兩個光束輸入端口。因此，它可以同時進行連接：例如，后側輸入端口的同步輻射光源、右側輸出口的 PMA50 偏振調制附件、右前側端口的光纖耦合模塊、左前側的輻射熱測量計探測器以及左側輸出端口的 HYPERION 系列 FTIR 顯微鏡。

VERTEX 80系列是要求苛刻的研究與開發(fā)應用的理想儀器。

全新附件： 布魯克為VERTEX 80/80v FTIR 系列光譜儀提供了全新的新型寬帶遠紅外/太赫茲分束器，拓展了分束器的選擇范圍。特別是在半導體和其它無機材料研究與開發(fā)應用中，由于全新的遠紅外固態(tài)分束器在單次測量中即可覆蓋從900 cm-1 到5 cm-1左右的光譜范圍，并且能夠將中紅外與遠紅外/太赫茲波譜范圍連接起來，因此它還能帶來更多價值。

VERTEX 80和VERTEX 80v光譜儀是VERTEX系列的研究級儀器。其創(chuàng)新的光學設計使得強大的臺式吹掃和真空光譜儀成為可能。它們能夠提供從紫外/可見光（50000 cm-1） 到遠紅外/太赫茲（5 cm-1）的廣泛光譜范圍、高的光譜和時間分辨率以及靈活性。多功能VERTEX 80/80v 系統能夠通過技術，為所有研究應用提供解決方案。

研究與開發(fā)

• 用于幅度/相位調制光譜的連續(xù)和步進掃描技術

• 用于高時間分辨率實驗的快速、交叉和步進掃描技術（步進掃描 / 快速掃描 / 交叉掃描時間分辨光譜）

• 對周期性有序微觀材料進行表征

• 用于氣體分析分辨率優(yōu)于0.06 cm-1的高分辨率光譜

• 用于真空紅外光束裝置的系統化

• 酶催化實驗的停流方法

• 外接高真空測量腔室

• 用于電極表面和電解質原位研究的FTIR 光譜電化學

制藥

• 測定分子的絕對構（VCD）

• 通過熱分析對藥物產品的穩(wěn)定性和揮發(fā)物含量進行表征 (TGA-FTIR)

• 遠紅外譜區(qū)區(qū)分活性藥物成分多晶型

聚合物與化學

• 遠紅外譜區(qū)識別聚合物復合材料中的無機填料

• 聚合物動態(tài)和流變學研究

• 測定揮發(fā)性化合物及表征熱分解過程 (TGA-FTIR)

• 反應監(jiān)測和反應控制 （中紅外光纖探頭）

• 識別無機礦物質和顏料

表面分析

• 薄膜和單分子層檢測與表征

• 結合偏振調制進行表面分析 (PM-IRRAS)

材料科學

• 光學和高反射材料（光窗、反射鏡）的表征

• 通過光聲光譜學（PAS）研究深色物質和深度剖析

• 材料的發(fā)射行為表征

半導體

• 硅晶圓中氧和碳含量的測定

• 淺能級雜質的低溫透射和光致發(fā)光（PL）測量進行質量控制

外接附件、光源和檢測器

VERTEX 80/80v光譜儀配備了5個光束出口和兩個光束入口，可連接外部激光器和同步輻射光源。此外，借助外部測量附件、光源和檢測器，您可輕松升級光譜儀的光學系統。包括如下內容：

• 用于VCD和PM-IRRAS的PMA 50偏振調制附件

• PL II 光致發(fā)光模塊

• RAM II FT-拉曼模塊和RamanScope III FT-拉曼顯微鏡

• TGA-FT-IR 聯用

• HYPERION 系列 FTIR 顯微鏡

• HYPERION 3000 FTIR 成像系統

• HTS-XT 高通量篩選eXTension

• IMAC 焦平面陣列宏觀成像附件

• 外部樣品室XSA（真空或吹掃）

• 外部真空密閉的高真空腔室(UHV)

• 真空PL/PT/PR測量單元

• 低溫液氦或無低溫液體恒溫器

• 帶中紅外或近紅外光纖探頭的光纖耦合單元（用于固體和液體）

• 大型積分球

• 自動進樣器

• 外部遠紅外Hg燈光源

• 寬帶中紅外-遠紅外檢測器

• 固態(tài)遠紅外/太赫茲分束器

• 外部發(fā)射適配器

• 外部高性能中紅外光源

• 外部高性能可見光源

• 外部真空4位檢測器腔（用于真空光學系統）

• 適用于遠紅外光譜范圍檢測的輻射熱測量計

• 自動分束器切換單元（BMS-c）（真空光學系統）

上海爾迪儀器科技有限公司代理bruker多型號產品